E+H导波雷达物位计

E+H 导波雷达物位计适用于所有液位测量和界面测量的基本应用，产品结构有6部分组合成：电子腔外壳、过程连接（法兰）、缆式探头、探头末端的配置快、杆式探头、同轴探头。物位计改善和提高了化工、石油及天然气、制药、能源、源水和污水、食品、散料处理、纸浆及造纸、造船和海上运输等领域的过程效益。同时可提供适用于在危险区域，卫生型场合，过溢保护和其它特殊应用场合使用的认证证书。

E+H 导波雷达物位计优点：
1、可靠的测量值，测量值不受介质变化、温度变化、气体覆盖或蒸汽的影响；
2、适用性强，内置数据存储器；
3、直观的菜单引导式操作，多种语言可选
4、便于集成到控制或资产管理系统中
5、精确的测量和过程诊断，便于快速决策

E+H 导波雷达物位Levelflex分为9个系列：FMP50、FMP51、FMP52、FMP53、FMP54、FMP55、FMP56、FMP57。

Levelflex FMP50适用于温度、压力或耐腐蚀性要求不高的测量场合，是储罐以及公用设施等基本型应用的较佳选择。采用多回波追踪创新技术，为测量结果带来高度可靠性，用于液体、浆料和泥浆的连续物位测量。

Levelflex FMP51适用于过程工业较端工况下的液位测量，如高温、高压等场合。硬件与软件根据IEC 61508标准开发，达到SIL3级别，主要用于液体、浆料和泥浆的连续物位测量以及界面测量。

Levelflex FMP52带涂层的探杆，适用于腐蚀性液体测量，所有的接液部件均采用FDA认证的材质，用于液体、浆料和泥浆的连续性物位测量，也用于界面测量。

Levelflex FMP53用于卫生要求高的食品和生命科学行业的连续物位测量，符合ASME BPE和USP VI级的卫生要求。FMP53不需要从过程中拆除，可在原位清洗，具有*特的成本优势。

Levelflex FMP54特别适用于油气、化工和电力等行业的高温高压测量场合。采用陶瓷-石墨密封的过程连接，能保证在高温高压场合的使用安全同时，气密馈通能提供更高的安全性。在高压的带气相层的液位测量中，只有带气相补偿技术的FMP54才能提供准确可靠的测量结果。

Levelflex FMP55适用于界面测量，采用传感器融合技术，是****的融合电容测量和导向雷达技术为一体的仪表。FMP55能确保在有乳剂层的工况下，连续稳定的获得液位和界面测量值。FMP55多参数仪表在界面测量领域，特别是石油天然气、化工和石化行业成为新的成员产品。

Levelflex FMP56适用于固体散料物位测量的经济、高效的基本型仪表，即使在粉尘严重的狭窄贮仓或有障碍物的船舱，FMP56也能提供较稳定的测量值。是用于粉状、粒状等固体散料连续物位测量。
Levelflex FMP57适用于固体散料物位测量，满足较高测量要求，是高贮仓、高煤仓或堆场等测量场合的较佳选择。FMP57提供长达45米的缆式探杆，适合高贮仓的测量。

E+H 导波雷达物位计测量原理：
Levelflex是基于ToF原理(行程时间)工作的“俯视式”测量系统。测量参考点至介质表面间的距 离。向探头发射高频脉冲信号，信号沿探头传播。脉冲信号在介质表面发生反射，反射信号被仪 表接收，并被转换成物位信息。此测量方法即为TDR法(时域反射法)。

E+H 导波雷达物位计测量原理：
是依据时域反射原理(TDR)为基础的雷达物位计，雷达物位计的电磁脉冲以光速沿钢缆或探棒传播，当遇到被测介质表面时，雷达物位计的部分脉冲被反射形成回波并沿相同路经返回到脉冲发射装置，发射装置与被测介质表面的距离同脉冲在其间的传播时间成正比，经计算得出液位高度。

E+H 导波雷达物位计界面测量：
高频脉冲信号到达介质表面，仅部分脉冲信号发生反射。上层介质的介电常数DC1较小时，未发 生反射的脉冲信号将沿探头继续向下传播。在两种介质的界面处发生*二次反射(在下层介质的介 电常数DC2大于上层介质的介电常数)。基于行程时间原理可以确定仪表至界面间的距离。同时， 还需要考虑脉冲信号在上层介质中传播的延迟时间。介质的介电常数(DC)直接影响高频脉冲信号的反射率。测量大介电常数(DC)的介质时(例如：水和 氨水)，脉冲反射信号强；相反，测量小介电常数(DC)的介质时(例如：碳氢化合物)，脉冲反射信 号弱。

E+H 导波雷达物位计相关型号：

PMP131-A2411A1G
PMP131-A2101A1S
PMP45-RE13P1J1ABF
PMP41-RE23PBH11F1
RMS621-21AAA1211
RMA422-B22A11A
RMA421-A21A2A
RIA452-A111A21A
RIA452-A111A11A
RIA261-A22