X荧光光谱仪RoHS1.0 RoHS2.0分析测试检测仪 Compass500

RoHS无卤检测分析测试光谱仪Compass500便携式分析仪
探测器	 Amptek Si-PIN探测器，高速脉冲分析系统
一体化X射线管	 4w微型型X射线管
能量分辨率	 149ev
元素分析范围	 硫（S）-铀（U）
测量时间	 60-300S
测量含量范围	 2ppm-99.9%
工作温度	 10-30°C
测量条件	 大气环境
应用行业
电子电器ROHS检测
合金ROHS检测
涂、镀层ROHS检测
塑料、塑件ROHS检测
各种有害元素检测领域

ROHS分析*
无损、快速、准确的检测、
高精度、高分辨率、高可靠性、
人性化界面、便捷操作、高清摄像头
 
应用案列
《电子信息产品中有毒有害物质的检测方法》（以下简称《检测方法》，标准号为 SJ/T 11365-2006）对RoHS要求中有害元素测试方法给予了限定。其中X射线荧光光谱法（XRF）作为一种较快捷、方便的方法被制定为快速筛选方法。使用X射线荧光光谱法（XRF）可对铅(Pb)、汞(Hg)、镉(Cd)、铬(Cr)以及（Br)五种元素的相应标准样品进行精确测试。可是基于 XRF的原理所获得的结果只是元素的含量，也就是说如果这种筛选测试得到铬（Cr）或（Br）的含量，即使它们们**标也并不能代表有害物质（Cr VI）与阻燃剂PBB和PBDE）**标，这个测试结果（指含有）只是含有相应有害物质的必要条件而并非充分条件。这也就是限值表中没有这两种有害物质不合格的限值判断依据的原因。