SEM断口观察 + 微区污染EDS分析 金属材料分析

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 是对金属表面或界面上只有几个原子层厚的薄层进行组分、结构和能态等分析的材料物理试验。也是一种利用精密仪器分析手段，揭示材料及其制品的表面形貌、成分、结构或状态的技术。

检测项目

※SEM断口观察 + 微区污染EDS分析：

观察金属、塑料、陶瓷等固体材料的表面微观形貌以及测量微小尺寸。分析固体表面微区

含有的元素种类,各元素的 相对含量以及各元素在特定区域内的含量分布情况 。

※表面成份 + 深度 GDES分析：

既可以进行基体成分分析,如硬质合金材料,也可以进行表面成分-深度剖析,如PVD薄膜、

电镀层、热处理硬化层、涂装层、阳极氧化膜及化膜的表面工艺分析。

※制程质量缺陷分析

SEM/ED S

功能: 微形貌观察、微小尺寸量测、微区成分分析

‧放大倍率: 5倍~30万倍

‧探测器分辨率: 133eV

‧可分析元素范围: Be(4)~U(92)

辉光放电光谱仪(GDES)

‧功能: 基材成分测试、表面成分-深度剖析

‧特点: 可得到产品表面成分随深度的分布曲线

‧深度范围: 10nm~150μm

‧成分范围: 10ppm~**