膜厚仪操作

苏州实谱仪器有限公司

x荧光镀层测厚仪产品详细资料介绍，x荧光镀层测厚仪技术参数和性能配置请咨询苏州实谱信息科技有限公司提供x荧光镀层测厚仪产品报价和操作说明。XTU是一款设计结构紧凑，模块精密化程度高的光谱分析仪，采用了下照式C型腔体设计，是一款一机多用型光谱仪。应用核心EFP算法和微光聚集技术，既保留了测厚仪检测微小样品和凹槽的性能，又可满足微区RoHS检测及成分分析。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。
由于化学镍镀层成分中含有磷（P）等X射线无法检出的轻金属元素，加上在不同应用领域中，P的含量高低不一等因素，以往采用的库伦法，X射线法等测量方法都存在准确度，可重现性等方面的不足。
库伦法因磷没有参与电化学反映，或者即使参与了反映，磷的反应与镍的反应过程与结果相差很大，造成仪器没有将磷在镀层中的存在的事实给与真实反映，由此造成测量的误差。传统的X射线检测时，由于镀层成分中的P比例是在不停变化的，通过固定镍与磷的比例的检测方法已不能完全反映样品的真实情况，造成测量的误差。
XTU不仅能测试化学镍的厚度，同时还能计算出成分中镍和磷的含量比例，很好的反应出产品的真实情况

应用领域：
广泛应用于电镀镀层厚度分析、接插件等电子元器件检测、紧固件行业、五金行业（家用设备及配件等，如Cr/Ni/Cu/CuZn(ABS)）、汽车零部件、配饰厚度分析、新能源行业（光伏焊带丝等）、汝铁硼磁铁上的Ni/Cu/Ni/FeNdB、电镀液的金属阳离子检测等多种领域。

产品优势：
微小样品检测：小测量面积0.03mm²（加长测量时间可小至0.01mm²）
变焦装置算法：可改变测量距离测量凹凸异形样品，变焦距离可达0-30mm
*的EFP算法：Li（3）-U（92）元素的涂镀层，多层多元素，甚至有同种元素在不同层也测量

XRF对贵金属检测的特优势：
标准：产品符合国家相关行业标准和技术标准，并通过质监局等相关检验机构检验，并可以提供校准证书；
快速：对样品*前处理，一般只需要20～200秒即可判定金、银、铂、钯等含量，方便对饰品做大量抽样的检测；
：ppm级度，可靠的检测数据；
无损：测试前后，样品无任何形式的变化；
直观：实时谱图，可直观显示贵金属和杂质元素含量；
简易：操作简易，*测试人员，*严格的测试条件；
安全：三重保护装置，确保安全无误；
经济：测试过程基本不需要任何耗材，降低测试与维护费用；
可靠：为化学分析提供测量依据，减少成本，提率。
因贵金属饰品的装饰需求，其成品结构形状复杂多变，测试区域小，市面上很多测厚仪根本无法实现对其检测。
XAU系列X荧光贵金属检测仪是*、生产的一款，用于检测贵金属的仪器，本系列仪器采用高分辨率探测器，可准确无误的的分析出黄金，铂金和K金饰品中金、银、铂、钯、铜、锌、镍的含量，测试结果符合国际标准。
虽然国内通用测试企业的发展速度相比于国际竞争对手更迅速，在技术指标和市场销量上的差距在缩小，部分产品的技术指标也迈入了行列，但受限于技术水平和其他元器件开发实力，在高性能产品领域依然是优势企业的天下。以占据通用电子测试测量仪器行业份额的数字示波器为例，目前**带宽的数字示波器是是德科技110GHz示波器，而国内数字示波器产品曾长期停留在数百MHz以下的带宽，近两年有所突破，但能达到批量货架产品的带宽也就2GHz上下，也于一两家企业。不过因为国内市场更为庞大，加上国内通用测试仪器企业的快速追赶，国产数字示波器的出货量占比逐年增加。