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三极管测试仪
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谐波功率分析仪
日本IWATSU CS-3300半导体特性曲线图示仪CS-3100，CS-3200，(符合 UL 规格)
非常适合测量不同类型半导体（包括IGBT、MOSFET、晶体管和二极管）的特性
zui大峰值电压：3000 V（高电压模式，适合所有型号）
zui大峰值电流：1000 A（CS-3300高电流模式）
所有型号均支持漏电流（LEAKAGE）测试模式（光标分辨率：1 pA）
USB接口（保存屏幕图像和设置条件）
磁场信号检测 无感应电阻器两端电压降法较大容许电流±6A 磁通密度信号检测 感应电压检测线圈两端电压检测法 较大容许电压±200V 数字化仪 分辨率 16bits （8192points / cycle） 样品连接方法 2绕线法或1绕线法 显示方式 8.4 英寸 TFT-LCD SVGA 800×600 像素 电源 100V 至 240V50/60Hz 功耗约 130VA（MAX） 尺寸 （mm）， 质量 420W×266H×480D（不含突起部），主体约12.5kg 外部存储器 USB（数据存储） 配件 POD 盖、交流耦合模块、功率放大器电缆 （BNC-BNC）、OSC 电缆 （BNC-SMA）、电源线、用户指南、用户手册 （CD）
产品功能 电子电力元件或器件测试波形特性的功能显示 (附图) 配备选件 CS-603A (3kV) 或 CS-605A (5kV), 可实现电子电力器件如SiC和GaN等的电容测试 在3kV (CS-603A)/5 kV (CS-605A) 作自动与扫描电容测试 曲线图示仪的测试适配器可用于各种器件封装类型 测试参数包括: Cies, Ciss (输入电容) Coss (输出电容) Cres, Crss (反向传输电容) Ct (端子间的电容) Cgs, Cge/Cgd, Ccg/Cds, Cce (已计算) Rg (栅较电阻) 可实行晶圆和芯片上的电容测试 (探针台和选件CS-603A/CS-605A) 具有外部联锁功能的恒温箱高低温试验 与电脑全自动化的**结合品牌:Agilent/安捷伦
工作温度:常温
显示方式:数字式
类型:多参数测试仪
晶体管:CS-3100
介子分析仪:SY-8219
磁场信号检测 无感应电阻器两端电压降法较大容许电流±6A 磁通密度信号检测 感应电压检测线圈两端电压检测法 较大容许电压±200V 数字化仪 分辨率 16bits （8192points / cycle） 样品连接方法 2绕线法或1绕线法 显示方式 8.4 英寸 TFT-LCD SVGA 800×600 像素 电源 100V 至 240V50/60Hz 功耗约 130VA（MAX） 尺寸 （mm）， 质量 420W×266H×480D（不含突起部），主体约12.5kg 外部存储器 USB（数据存储） 配件 POD 盖、交流耦合模块、功率放大器电缆 （BNC-BNC）、OSC 电缆 （BNC-SMA）、电源线、用户指南、用户手册 （CD）
产品功能 电子电力元件或器件测试波形特性的功能显示 (附图) 配备选件 CS-603A (3kV) 或 CS-605A (5kV), 可实现电子电力器件如SiC和GaN等的电容测试 在3kV (CS-603A)/5 kV (CS-605A) 作自动与扫描电容测试 曲线图示仪的测试适配器可用于各种器件封装类型 测试参数包括: Cies, Ciss (输入电容) Coss (输出电容) Cres, Crss (反向传输电容) Ct (端子间的电容) Cgs, Cge/Cgd, Ccg/Cds, Cce (已计算) Rg (栅较电阻) 可实行晶圆和芯片上的电容测试 (探针台和选件CS-603A/CS-605A) 具有外部联锁功能的恒温箱高低温试验 与电脑全自动化的**结合品牌:Agilent/安捷伦
工作温度:常温
显示方式:数字式
类型:多参数测试仪
晶体管:CS-3100
介子分析仪:SY-8219
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