镀铝膜厚测试仪 苏州实谱信息科技有限公司

苏州实谱仪器有限公司

x荧光镀层测厚仪产品详细资料介绍，x荧光镀层测厚仪技术参数和性能配置请咨询苏州实谱信息科技有限公司提供x荧光镀层测厚仪产品报价和操作说明。XTU是一款设计结构紧凑，模块精密化程度高的光谱分析仪，采用了下照式C型腔体设计，是一款一机多用型光谱仪。应用核心EFP算法和微光聚集技术，既保留了测厚仪检测微小样品和凹槽的性能，又可满足微区RoHS检测及成分分析。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。
由于化学镍镀层成分中含有磷（P）等X射线无法检出的轻金属元素，加上在不同应用领域中，P的含量高低不一等因素，以往采用的库伦法，X射线法等测量方法都存在准确度，可重现性等方面的不足。
库伦法因磷没有参与电化学反映，或者即使参与了反映，磷的反应与镍的反应过程与结果相差很大，造成仪器没有将磷在镀层中的存在的事实给与真实反映，由此造成测量的误差。传统的X射线检测时，由于镀层成分中的P比例是在不停变化的，通过固定镍与磷的比例的检测方法已不能完全反映样品的真实情况，造成测量的误差。
XTU不仅能测试化学镍的厚度，同时还能计算出成分中镍和磷的含量比例，很好的反应出产品的真实情况

随着科技的不断发展和创新，人们对于日常使用物品的外观和实用性要求也越来越高，于是装饰铬的应用领域也是越来越广，不管是汽车门把手，以及各种零配件，家用的卫浴，门把手等等工件上面都可以看到它们的身影。镀铬的工艺种类其实有很多，例如有防护性的装饰铬，耐磨性的镀硬铬，镀乳白铬，镀松孔铬，镀黑铬等等。
技术难点：
装饰类镀铬行业的测试难点主要体现在一下几个方面：
1.样品结构比较复杂，需要检测的区域高低不一。
2.样品表面的装饰Cr镀层一般在0.5um以下，Cr在元素周期表中靠前，其X射线荧光能量较弱，加上在异形件测试中，由于测试高度的变化,Cr荧光能量损耗严重，导致测试结果发生偏差。
3.塑料基材类的镀层，由于汽车行业的需求，镀铜镀镍层一般都很厚，底层的铜层由于Ni层较厚，铜层荧光不能穿透出来被接受，导致铜层无法测试。
4.而较薄的镀铜镍铬产品，在电镀时，塑料基体的正面和背面都有电镀，背面的铜镍的荧光可以轻易穿透基材塑料，从而被仪器接收，造成测试结果不能反映产品的真实镀层情况。
的XTD系列仪器，采用上照式的设计结构，加上自动/手动对焦以及变焦功能，轻松应对各种复杂结构的样品的测试。焦结构的设计加上EFP软件的距离补偿算法，自动补偿因测试距离变长导致的X射线荧光能量的衰减，测试结果更加准确。

合金，是由两种或两种以上的金属与金属或非金属，经一定方法所合成的具有金属特性的混合物。一般通过熔合成均匀液体和凝固而得，根据组成元素的数目，可分为二元合金、三元合金和多元合金。两种或两种以上金属通过一定工艺均匀的融合在一起，就是合金，如，铜锌组成黄铜、铜锡组成青铜，铜镍组成白铜，不锈钢全部是含铬镍钛等金属的合金。
技术难点：
但由于合金中所含有的碳C，硅Si，锰Mn，磷P，铍P，硼B，镁Mg等元素能量较低，X射线无法检测到这些元素。
而XAU这款仪器，采用微聚焦加强型X射线管，搭配SDD硅漂移大面积25mm²探测器，可对地矿、合金及贵金属等物质中的Al（13）-U（92）的80种元素成分分析，检出限高达1ppm。

产品优势：
微小样品检测：小测量面积0.03mm²（加长测量时间可小至0.01mm²）
变焦装置算法：可改变测量距离测量凹凸异形样品，变焦距离可达0-30mm
的EFP算法：Li（3）-U（92）元素的涂镀层，多层多元素，甚至有同种元素在不同层也测量
虽然国内通用测试企业的发展速度相比于国际竞争对手更迅速，在技术指标和市场销量上的差距在缩小，部分产品的技术指标也迈入了行列，但受限于技术水平和其他元器件开发实力，在高性能产品领域依然是优势企业的天下。以占据通用电子测试测量仪器行业份额的数字示波器为例，目前**带宽的数字示波器是是德科技110GHz示波器，而国内数字示波器产品曾长期停留在数百MHz以下的带宽，近两年有所突破，但能达到批量货架产品的带宽也就2GHz上下，也于一两家企业。不过因为国内市场更为庞大，加上国内通用测试仪器企业的快速追赶，国产数字示波器的出货量占比逐年增加。