产品规格: | 不限 | 产品数量: | 不限 |
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包装说明: | 不限 | 价格说明: | 不限 |
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公司编号: | 14405528 | 更新时间: | 2024-03-13 14:24:49 |
产地: | 荷兰 |
Lightning Arctic TEM 原位冷冻热电方案是 Lightning TEM 原位热电方案拓展的新成员。通过 Lightning Arctic 样品杆,可以在冷却或加热样品的同时,对其施加可控的电学刺激,并以原子级分辨率在透射电镜下 观察样品的实时动态过程。
Lightning Arctic 系统有两种工作模式: 1)冷冻&加电;2)加热&加电。它大大拓宽了 TEM 的应用领域范 围,进而为研究低温物理,以及探究材料、器件的工艺条件与其结构、性质和性能的关系提供了特的可 能性。 DENSsolutions 的 MEMS 纳米芯片采用四探针法加热,可控制加电和加热,并输出准确的数据。 其特的芯片设计可单或同时达到的电场环境和加热温度。
为什么要选择 Lightning Arctic 原位冷冻热电方案?
1) 直接进行原位低温冷冻和加热实验
Lightning Arctic 样品杆内的冷却棒可将"冷"传递到样品杆的芯片。一旦冷却棒连接到浸入在罐的 金属冷须上,样品就能在 TEM 内冷却到温度。除冷却外,Lightning Arctic 样品杆还能进行原位加热 实验,可达到 800 ℃、甚至 1300 ℃(使用特殊芯片)。
2) 原子成像高稳定性与高质量
基于 Lightning Arctic 原位样品杆的特设计,额外配置了数个温度控制器,以稳定冷却过程中的样品漂 移。其中一个控制器确保与 TEM 的温度平衡,其余的控制器用于稳定控制样品的冷却流量。同时,使用外 部罐有助于大限度地减少液泡,从而实现低样品漂移的高质量原子成像。
3) 持续的温度控制
我们的加热&加电芯片可以在不干扰样品杆冷却过程的情况下,对样品进行精细的微区温控。这意味着可以快速设定用户想要的温度,并且把改变温度时所带来的图像漂移和离焦偏移降到小,同时确保原子级的高分辨成像。
4) 轻松实现样品所需的晶向
Lightning Arctic 双倾样品杆可在 α 和 β 两个方向上倾转样品(视靴类型,10° - 25°),以对准到所需晶带轴。
5) 在冷却/加热过程中进行原位加电实验
与 Lightning Arctic 样品杆兼容的加热&加电纳米芯片包含加电电,可用于在冷却或加热过程中施加和测 量电信号。同时,在纳米芯片上制备可用于电学实验的 FIB 样品薄片也是非常重要的。DENSsolutions 为 Lightning 系统开发的成熟化工具(如 FIB 样品台),也可用于在 Lightning Arctic 系统的加热&加电芯片 上制备高质量、无短路的 FIB 样品薄片。