苏州厂家设备综合效率监测系统

设备综合效率(Overall Equipment Efficiency，OEE)是较新的高级设备效能度量方法。较初，它是作为设备综合有效性，在日本发展起来并成为与制造技术有效性相关的设备度量方法，称为全面生产维护（TPM）。美国全面生产维护协会（AITPM）现在是美国使用OEE度量方法的主要负责机构。随着在美国使用的扩大，它被重新命名为设备综合效率。

设备综合效率/（OEE）起初是用于决定有多少损失与设备有关，以及这些损失在何处发生。OEE测定设备的7个主要损失，并将它们分成4类：可用性、利用率、产率和良率。

二十世纪九十年代中期，美国的半导体公司开始关注OEE，并成立了特别工作组，创建SEMI-E79以便确定通用度量方法，将OEE定义为包括设备效能各个方面的设备真实效率度量方法。为适应半导体产业的要求，对原始的OEE度量方法的二个方面进行了改变，以使OEE更为实用。这两个方面是：
● 在OEE计算中将设备计划停用时间包括进去，由此指明了通过创新生产和减少无效的计划停工时间以增加设备利用率的机会。
● 所有测量都以时间为基点。良率的测定过去都是用生产的合格品/生产的全部产品计算得到的。如SEMI-79的评述所指出的，用时间计算良率有可能指明更大的效率损失。

与其它度量方法的关系
有很多级别不同的设备效能度量方法，它们看起来似乎互不衔接，但实际上并非如此。它们全都很好地结合于同一体系中。
如图所示为多种设备效能度量方法的关系。从图中可以看到，时间尺度与质量和安全性相加组成可靠性，可靠性和可维修性结合就组成可用性。而生产速度效率和生产缺陷率与可用性结合就成了生产率（OEE），采购和生产成本组成生命周期成本（LCC）。当废品、废料、消耗品、税收和保险成本与LCC相加并将总和用生产量标定时，就成了COO。

OEE=有效产品的理论生产时间/总时间
或
OEE=可用性效率×性能效率×质量效率

可用性效率
可用性效率定义为“设备处于执行其预定功能状态下的设备工作时间”。可用性效率可用下列等式表示：
可用性效率=设备工作时间/总时间

性能效率
性能效率定义为“设备正在以理论有效速率加工实际产品的设备工作时间部分”。性能效率可用下列等式表示：
性能效率=操作效率/速率效率
或
性能效率=(生产时间/设备工作时间)×(实际产品理论生产时间/生产时间)

质量效率
质量效率定义为“有效产品的理论生产时间除以实际产品的理论生产时间”。质量效率可用下列等式表示：
质量效率=有效产品的理论生产时间/实际产品的理论生产时间

从上面我们可以看到，计算OEE需要很多参数。如果精确度要求不高的话，可用下列公式计算OEE近似值：
OEE=*时间周期内良品产出数/(理论产率×时间周期)

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