三值精密仪器、光谱仪、光谱仪

　　卤素检测仪技术参数

　　较*高精度：小于0.1 oz/yr(2.8g/yr)；甚至可达0.05 oz/yr(1.4g/yr)；

　　较*大浓度：传感器不会因过量的卤素而中毒；

　　工作环境：0～50℃，0～95% RH 不结露；

　　电子技术：**的智能微处理器控制电路，持续的电池和传感　器状态监视；

　　传感器：**的热电子（预热二极管）；

　　电源：镍-镉充电电池 充电2小时或状态指示；

　　尺寸重量：26cm（长）×6.5cm（直径）；

　　重量：452克。

      X射线荧光光谱仪分为波长色散、能量色散、非色散X荧光、全反射X荧光。

      波长色散X射线荧光光谱采用晶体或人工拟晶体根据Bragg定律将不同能量的谱线分开，然后进行测量。波长色散X射线荧光光谱一般采用X射线管作激发源，上海光谱仪，可分为顺序式(或称单道式或扫描式)、同时式(或称多道式)谱仪、和顺序式与同时式相结合的谱仪三种类型。顺序式通过扫描方法逐个测量元素，因此测量速度通常比同时式慢，适用于科研及多用途的工作。同时式则适用于相对固定组成，对测量速度要求高和批量试样分析， 顺序式与同时式相结合的谱仪结合了两者的优点。

全反射荧光

       如果n1>n2，则介质1相对于介质2为光密介质，介质2相对于介质1为光疏介质。对于X射线，一般固体与空气相比都是光疏介质。所以，如果介质1是空气，那么α1>α2（图2.20右图），即折射线会偏向界面。如果α1足够小，并使α2=0，此时的掠射角α1称为临界角α临界。当α1<α临界时，光谱仪，界面就象镜子一样将入射线全部反射回介质1中，这就是全反射现象。

X射线荧光光谱法有如下特点：

分析的元素范围广，从4Be到92U均可测定；

荧光X射线谱线简单，相互干扰少，光谱仪，样品不必分离，手持光谱仪，分析方法比较简便；

分析浓度范围较宽，从常量到微量都可分析。重元素的检测限可达ppm量级，轻元素稍差；

分析样品不被破坏，分析快速，准确，便于自动化。