PCB离子迁移研究及其故障分析

可对离子迁移?绝缘电阻值进行高精度?高信赖性?高效率的评价。
从当今的地球?市场环境来看，省能源?铅/无卤素?小型轻量?低价格?高信赖等观点出发的，
新素材?新实装方法的研究开发?评价方法的重估是必须的。
J-RAS公司把握市场的需要，为您提供容易操作而且可以进行高信赖性评价试验的，
新时代离子迁移实验装置 ECM-100系列。

简介：离子迁移实验装置是一种信赖性试验设备，原理为印刷电路板上给予一固定的直流
电压（BIAS VOLTAGE）,经过长时间的测试（1～1000小时）并观察线路是否有瞬间短路的
现象发生（ION MIGRATION）,并记录阻抗变化状况，故又叫做CAF试验，绝缘阻力电阻试验，或者是OPEN/SHORT试验，我们将其统称为绝缘劣化试验。（ION MIGRATION TESTING）
适用规格：JPCA-ET01-2001

项目	规格?性能?其他
筺　体	型式	ECM-100/40-n　　　　　(n:Channel数)	ECM-100/100-n　　　　　　(n:Channel数)
	筺体型式	40CH型（较大4计测组合）	100CH型（较大10计测组合）
	筺体寸法	265W×330.3D×405H（突起部除外）	417.4W×330.3D×405H（突起部除外）
	消费电力	大约70VA（4计测组合实装时）	大约130VA（10计测组合实装时）
	重量	大约16kg（4计测组合实装时）	大约25kg（10计测组合实装时）
	使用电源	AC100V　50/60Hz　
计测　组合	计测Channel数	10CH
	计测电阻值范围	2kΩ～10TΩ
	DCbias印加	电压范围	2范围　（1.0～30.0V，30.1～300.0V）
		电压范围设定	1组（5CH）
		电压级别设定	Channel个别
		设定分解能	0.1V
		设定精度	±〔0.3％(F.S.)+0.5〕V
		较大输出电流	700μA／CH
	DCbias计测	计测范围	2范围（0～33V、0～330V）
		计测精度	±〔0.3％(F.S.)+0.5〕V
		计测分解能	0.1V～（整数+小数点以下１行表示）
		AD转换器	24bits⊿∑AD转换器／CH
		计测速度	16msec／10CH
	电流计测	计测方式	CHANNEL个别HIGH-SIDE电流计测方式
		计测范围	5范围（～500μA，～50μA，～2.5μA，～125nA，～6.25nA）
		计测范围设定	CHANNEL个别* 或者　自动范围
		计测精度	±0.3％（F.S.）
		计测分解能	1pA～（有効数字4行表示）
		AD转换器	24bits⊿∑AD转换器／CH
		计测速度	16msec／100CH
Ｃ　Ｐ　Ｕ　组合	制御Channel数	5～100CH（5Channel単位）
	数据收录	试验制御単位	1组（5CH）
		试验设定小时	1分～9999小时
		收录间隔（定期）	1分～60分
		收录间隔（ECM发生时）	16msec
		记录媒体	Compact flashcard
	其他	主PC通信机能	LAN接触口×1
		环境试验机通信机能	RS-232C接触口×2
		外部输入1	接点输入×4　（联动装置，紧急停止制御可）
		外部输入2	电压输入(1-5V)×2，电流输入(4-20mA)×2　（温度?湿度记录可）
		自动校正	bias输出补正，异常leak电流检测
计测线	TRIAXIAL线　（耐热温度：200度，被膜材质：特氟隆树脂）

详细请联系：深圳市世纪天源仪器有限公司