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膜厚仪检测的方法
国内外已普遍按统一的国际标准测定涂镀层厚度,覆层无损检测的方法和仪器的选择随着材料物理性质研究方面的逐渐进步而更加至关重要。
有关覆层无损检测方法,主要有:楔切法、光截法、电解法、厚度差测量法、称重法、X射线莹光法、β射线反射法、电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中除了后五种外大多都要损坏产品或产品表面,系有损检测,fischer膜厚仪,测量手段繁琐,速度慢,多适用于抽样检验。
膜厚仪的正确校正及测量说明
1、打开膜厚仪探头盖。
2、膜厚仪的校正 ①取出校正片.将膜厚仪四角平行放在校正片上,拿起膜厚仪按左功能健至CAI,按OK,再在校准正片上连续平行测试5次后按OK健归零。 ②将二次校片放在校正片上连续平行测试5次后按OK键归零。 ③按功能键到O键,扫OK,再在校正片上连续测试5次后按OK键归零,再按OK键,加入二次校正片用膜厚仪测试5次.按OK键归零。 ④每周校。
3、膜厚仪的测量 ①取出被测物品及探头。 ②将被测物品平放于桌面,将探头和四角与被测物品进行直接平面接触,点击测量键读取数值。 ③依②的操作方法对被测物品的主次面进行平均三点测量。 ④将单面三点的数值进行换算,得出单面的平均膜厚值[ā=(a1+a2+a3)/3]。 ⑤将以上测量数值填入《出货检验报告》及《膜厚测试巡检报告》
4、膜厚仪设备停止。
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